PL（光致发光）检测

                                                                                                               PL（光致发光）检测

      PL光致发光原理：利用特定波长的激光作为激发光源，提供一定能量的光子，硅片中的基态电子在吸收这些光子后进入激发态，释放波峰在1150nm左右的近红外光，

然后利用高光谱高分辨率的相机进行感光、成像。成像后光强与对应位置非平衡少数载流子浓度成正比，由于缺陷会导致该区域的少数载流子浓度减小从而削弱其荧光效应，

成像后则表现为暗色的点、线或一定区域，故可通过光致发光来判断样片是否存在缺陷，杂质等等最终影响电池效率。

检测范围：硅锭、硅片、工艺过程片、太阳能电池片、组件产品。

过程位置：在串焊、叠瓦之后或者组件成品之后。通常也会根据客户的需求来搭配安装，安装在成品电池片出来后、或者串焊上料前。

同时可以安装适应行业硅片、硅锭检测。

优点：无接触，不易产生二次缺陷；检测效率高。

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